一.美國EDX6000B X熒光光譜儀簡單介紹;
美國EDX6000B X熒光光譜儀是美國天瑞公司08年推出的一款全新的全元素分析儀器,專注于水泥、鋼鐵、有色金屬、礦料分析及RoHS檢測等。X射線發(fā)生器性能良好，指標(biāo)達(dá)到較高水平。儀器測試結(jié)果符合國家標(biāo)準(zhǔn)，性能價(jià)格比高。專為冶金、建材行業(yè)設(shè)計(jì)。
性能特點(diǎn)：
專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測
抽真空樣品腔，有利于低含量輕元素的分析
內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號處理能力25倍
針對不同樣品可自動切換準(zhǔn)直器和濾光片
電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
產(chǎn)品參數(shù)：
型號：EDX6000B
輸入電壓：AC 110V/220V
消耗功率：200W
環(huán)境溫度：35℃—70℃
樣品腔面積：320mm＊180mm
外形尺寸：650mm＊608mm＊466
重量：75千克
技術(shù)指標(biāo)：
元素分析范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
同時(shí)分析元素：24種元素同時(shí)分析
檢測限：RoHS指令規(guī)定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）檢出限zui高達(dá)1ppm
功能范圍：測量RoHS、礦料分析、鍍層厚度、全元素分析 ，一機(jī)多用
測量鍍層：鍍層厚度測量zui薄至0.005微米，可分析11層以上的鍍層
分析精度：0.05% (96%以上)
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
測量時(shí)間：60s—200s
工作溫度:15℃—30℃
工作濕度：≤70%
工作電壓：AC 110V/220V
儀器配置:
信噪比增強(qiáng)器
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高效超薄端窗X光管
電制冷UHRD探測器
內(nèi)置高清晰攝像頭
可自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片
加強(qiáng)的金屬元素感度分析器
樣品更換器特點(diǎn)
具有16個(gè)樣品更換器
操作簡單、方便、省時(shí)
在無人操縱的情況下能自動處理大量樣品
方便進(jìn)行樣品裝載
能分析固體、液體、粉末、壓片、礦漿、顆粒物、薄膜和涂層等
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